ZEISS Xradia 800 Ultra

實驗室中的同步加速器性能

　　使用蔡司Xradia 800 Ultra X射線顯微鏡，可實現低至50 nm的空間分辨率，是基于實驗室的X射線成像系統中較高的。 隨著非破壞性3D成像在當今的突破性研究中發揮至關重要的作用，您將在基于實驗室的超高分辨率系統中體驗無與倫比的性能。 創新的Xradia Ultra架構采用吸收和相位對比成像模式以及8 keV的X射線能量，采用同步加速器改造的獨特光學元件。 使用Xradia 800 Ultra，期望獲得無與倫比的原位和4D功能，用于研究材料隨時間的演變，并擴展材料科學，生命科學，自然資源和各種工業應用中使用的X射線成像的極限。

　　亮點

　　Xradia 800 Ultra的分辨率高達50 nm，可讓您深入了解以前無法通過傳統實驗室X射線技術獲得的微觀結構和工藝。 使用8 keV X射線進行操作可為各種材料提供出色的穿透力和對比度，使您能夠觀察其自然狀態下的結構和材料。

　　蔡司Xradia 800 Ultra提供可靠的內部3D信息，否則只能通過橫截面等破壞性方法訪問。 大工作距離和大氣樣本環境使您可以輕松地進行原位研究。

　　優勢

• 　　非破壞性3D X射線成像允許重復成像相同樣品，允許直接觀察微觀結構演變
• 　　保持低至50nm的高分辨率用于原位裝置內的樣品成像
• 　　用于斷層攝影重建的自動圖像對準
• 　　可切換的視場范圍從15到60μm
• 　　吸收和Zernike相襯成像模式
• 　　在您的實驗室中開發，準備和測試您計劃的同步加速器實驗，以提高同步加速器光束時間的有效性
• 　　現在，Scout-and-Scan控制系統具有簡單的基于工作流程的用戶界面，非常適合中央成像實驗室，用戶可以擁有各種各樣的經驗水平